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Zaine teixeira, Mestrado (2005)
email: zaine@iqm.unicamp.br

Preparação e caracterização de pós e filmes finos de óxidos mistos semicondutores Bi2MNbO7 (M= Al e In) pela técnica de decomposição de precursores metalorgânicos (MOD)

Resumo

O presente projeto visa a obtenção de pós e filmes finos de óxidos mistos semicondutores do tipo Bi2MNbO7 (M = Al, In) pela técnica de Decomposição de Precursores Metalorgânicos (MOD). Tais compostos são isoestruturais ao mineral pirocloro e apresentam propriedades ópticas, elétricas e magnéticas de interesse.

Os filmes serão preparados pela deposição das soluções dos precursores em substratos de vidro ou quartzo, empregando-se a técnica de dip coating. Nesta etapa, algumas características dos filmes como morfologia, espessura e cristalinidade serão investigadas, controlando-se algumas variáveis do processo como: velocidade de puxamento do substrato, temperatura de pirólise e tratamento térmico adicional (annealing).

Os filmes e os pós serão caracterizados por diferentes técnicas, dentre elas: difratometria de raios X (DRX), espectroscopias Raman e infravermelho, microscopia eletrônica de varredura (MEV), espectrometria de raios X por dispersão de energia (EDS). A espessura será determinada por perfilometria. As propriedades ópticas e elétricas serão avaliadas por espectroscopia UV-Vis-NIR e por medidas de resistência pelo método de quatro pontas, respectivamente. Eventualmente, será realizada a determinação da composição por espectrometria de retroespalhamento Rutherford (RBS) e a investigação das propriedades magnéticas através de magnetômetro com gradiente de campo alternado (AGM).

[CNPq]

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