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NOVIDADES

Materiais semicondutores têm seus defeitos mapeados.

O Laboratório de Processamento de Nanomateriais (Nanomaterial Processing Laboratory), da Universidade da Cidade de Dublin (Irlanda), desenvolveu um novo método não-destrutivo para analisar as propriedades e defeitos nos materiais de componentes ópticos e semicondutores.

A tecnologia, batizada Pampas, combina um microscópio fotoacústico (PAM) que detecta e localiza as imperfeições dos materiais (cavidades ou partes exfoliadas) e um espectrômetro fotoacústico (PAS) que mede suas propriedades mecânicas (elasticidade).

O instrumento "varre" a amostra analisando zonas de 30 micrômetros de diâmetro. A luz emitida por uma fonte modulada é focalizada sobre essa zona. Os impulsos luminosos são absorvidos pelo material e convertidos em calor, que se propaga e interage com os defeitos antes de ser transmitido ao gás em contato com a superfície do material.





Efeito Fotoacústico (simplificação).

Créditos: The Analist



As variações de temperatura do gás provocam uma pulsação da pressão que é detectada e analisada para revelar a estrutura em profundidade. No modo PAM, a luz incidente é monocromática e permite analisar várias profundidades, entre 1 micrômetro e um milímetro, em função da modulação. O tamanho das imperfeições medidas está compreendido entre 2 e 20 nanômetros. No modo PAS, o comprimento de onda da luz varia. A resposta espectral permite determinar a elasticidade do material, sua termoelasticidade, seu coeficiente de absorção óptica ou ainda seu gap eletrônico...


Essa tecnologia é comercializada pela unidade de transferência e valorização de tecnologia da Universidade da Cidade de Dublin.

Technology Ireland (www.enterprise-ireland.com/), consultado em 24 de agosto de 2008 (Tradução - MIA).


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