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Unicamp incorpora mais uma poderosa ferramenta em seu arsenal para o estudo das nanotecnologias.

A Unicamp, especificamente o CCS - Centro de Componentes Semicondutores, acaba de colocar em funcionamento o equipamento Raman Spectroscopy AFM System, modelo NTEGRA Spectra, produzido pela empresa NT-MDT. O sistema foi adquirido com financiamento do CNPq e da FINEP.

O referido sistema permite a realização de um grande número de técnicas relacionadas à SPM (Scanning Probe Microscopy), tais como: AFM (Microscopia de Força Atômica), nos modos contact, semi-contact e non-contact: Lateral Force Microscopy, Phase Imaging, Force Modulation, Adhesion Force Imaging, Magnetic Force Microscopy, Electrostatic Force Microscopy, Scanning Capacitance Microscopy, Kelvin Probe Microscopy, Spreading Resistance Imaging, Lithography.

Além das técnicas citadas, podem ainda ser realizadas com este sistema as técnicas de SNOM (Scanning Near-Field Microscopy), nos modos Shear Force Microscopy, SNOM Reflection, Transmission and Luminescence.




Raman Spectroscopy AFM System, da UNICAMP.
Um verdadeiro laboratório de técnicas para as nanotecnologias.

Créditos: Centro de Componentes Semicondutores (CCS)


Graças a associação de um espectrômetro Raman com um microscópio de prova AFM, tal sistema permite obter espectros Raman, tirando partido do efeito TERS (Tip-Enhanced Raman Scattering), com resoluções que podem chegar a 30-40 nm (as quais estão bem além do limite de difração). Os melhores microscópios a efeito Raman convencionais têm resoluções de 200 nm. Assim, podem ser obtidos espectros Raman de estruturas nanométricas, nas quais, em princípio, o limite de resolução espacial é o próprio diâmetro do tip do AFM. O equipamento está funcionando com um laser operando em 488 nm.

Vários projetos em desenvolvimento na Unicamp já começam a se beneficiar da presença destas facilidades, dentre eles aqueles relacionados com estudos de propriedades estruturais, ópticas, químicas, elétricas de materiais micro e nanoestruturados: nanotubos de carbono, clusters de silício em matrizes de SiO2, pontos quânticos de materiais III-V e II-VI, nanopartículas de ouro, nanotubos inorgânicos, nanocompósitos, entre outros.

O Raman Spectroscopy AFM System tem como responsável o pesquisador Dr. Stanislav Moshkalev, o qual atua no CCS no desenvolvimento de rotas para a obtenção de materiais nanoestrutrados, baseados no carbono.

LQES NEWS, Ano VI, Número 119, 16 de fevereiro de 2007.


Nota do Scientific Editor: para maiores informações sobre as técnicas SPM (Scanning Probe Microscopy) e aplicações das mesmas, visite os sites:

http://www.mobot.org/jwcross/spm/

http://www.nanosprint.com/nanotubes/newsletter/monthly_0406/.


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